该试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。
规格说明：
型号 HJ-HQ45 HJ-HQ60
内部尺寸(W*H*D)mm 450*450*450 500*600*500
外部尺寸(W*H*D)mm 980*960*660 1050*1160*680
内外部材质 内箱采用SUS#304不锈钢、1.0t雾面处理，外壳采用SECC钢经粉体烤漆
温度范围 RT+10℃~200℃（300℃）
分布均匀度 ±1.5%
空气换气率 0~200/hr可用调式，附换气调整钮，瓦特小时。
试验加转速 5~10rpm
电源 1Φ220V 50Hz
联系人：王明建
先生
（销售）
电话：086 0769 85052581-8011
移动电话：13650139157
传真：86 0769 85988679
地址：中国广东省东莞市厚街镇广东省东莞市厚街镇桥头村博览大道西桥头路段36号
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加盟者：孙圣霞
我想详细的了解加盟政策，请给我打电话联系。
Tel:1378212***
河南省*** 时间：2013-6-3 15:32:2
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